Tekscan压力分布测量系统
Tekscan成立于1987，位于美国波士顿。Tekscan薄膜压力分布测试系统的领导者，通过使用挠性薄膜感测片来测量两个接触面间的压力分布，辅以定制的数据采集器和软体分析工具，能够深入了解缝隙间的压力分布问题所在，优化产品设计、品质与生产等。Tekscan的压力测量系统利用薄而灵活的传感器测量两个表面之间的接口压力。由此产生的数据和分析工具提供见解，以增强产品设计、制造、质量和研究。一套测量系统包括：测量片、数据采集器和软件。
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